使用尼康倒置金相顯微鏡 LV150N 觀察金相試樣晶粒度，主要包括前期準備、操作觀察及結果分析等步驟，具體如下：

尼康倒置金相顯微鏡 LV150N前期準備

試樣制備：從待測材料上截取具有代表性的試樣，通過鑲嵌、磨光、拋光等操作使試樣表面平整光滑。之后使用合適的化學試劑對拋光后的試樣進行腐蝕，以顯露材料的微觀組織特征，便于觀察晶粒。

標準評級圖準備：獲取與所測材料對應的標準晶粒度評級圖，如 GB/T 6394-2017《金屬平均晶粒度測定方法》中的標準圖。

顯微鏡準備：開啟尼康倒置金相顯微鏡 LV150N 的電源，讓光源預熱穩定。根據試樣的特點和觀察要求，選擇合適的物鏡和目鏡組合，一般先從低放大倍數開始，如 100 倍。

尼康倒置金相顯微鏡 LV150N操作觀察

放置試樣：將制備好的金相試樣放在顯微鏡的載物臺上，用載物臺夾具固定好，確保試樣表面與顯微鏡的光軸垂直。

對焦與調整：通過粗調旋鈕和微調旋鈕，使試樣圖像清晰聚焦。調節光源的強度、孔徑光闌和視場光闌，以獲得最佳的對比度和亮度，讓晶粒邊界清晰可見。

多視場觀察：移動載物臺，選擇不同的視場進行觀察，確保觀察到的晶粒具有代表性，避免只觀察到局部特殊區域而導致結果偏差。

尼康倒置金相顯微鏡 LV150N結果分析

比較法：將觀察到的晶粒形貌與標準評級圖進行對比，確定最接近的晶粒度級別?？梢栽诓煌囊晥鲋羞M行多次比較，以提高準確性。

面積法：使用圖像分析軟件或手動測量工具，在顯微鏡下隨機選擇一定數量的晶粒，測量每個晶粒的面積。計算所有測量晶粒面積的平均值，再根據平均晶粒面積與晶粒度級別之間的關系表或計算公式，確定晶粒度級別。

截點法：在顯微鏡圖像上放置一條已知長度的測試線，使其與晶粒邊界相交，統計交點數量?？梢栽诓煌晥龆啻螠y量，然后根據交點數量、測試線長度和晶粒度級別之間的關系公式，計算晶粒度級別。