產品介紹

XRD原位冷熱臺是一款X-射線衍射儀的變溫測試附件，可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-190~600°C / RT~1200°C  支持在空氣 / 惰性氣體  / 真空的環境條件下進行測試。

適合于粉末、片材樣品在變溫下進行X-射線結構研究，支持在現有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學等）上定制樣品架進行適配。

簡要參數

溫度范圍：-190~600℃ / RT~1200℃

溫度穩定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）

支持反射/透射模式

氣密腔室，可通保護氣體

腔室可升級真空腔室（10^(-3)  mbar）

上位機軟件控制

支持改動或定制

參數一覽表

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